イミュニティ試験システム 近接照射イミュニティ試験システム
近年、非接触給電や無線機器の増加とともに、これらの機器が他の電子機器に近接する状況が増えることで、電磁干渉リスクが懸念されています。近接照射イミュニティ試験は近接したアンテナから放射される磁界および電界に対して、電子機器の耐性を評価する試験です。
低周波帯はループアンテナによる磁界、高周波帯は、TEMホーンアンテナによる電界を発生させます。

近年、非接触給電や無線機器の増加とともに、これらの機器が他の電子機器に近接する状況が増えることで、電磁干渉リスクが懸念されています。近接照射イミュニティ試験は近接したアンテナから放射される磁界および電界に対して、電子機器の耐性を評価する試験です。
低周波帯はループアンテナによる磁界、高周波帯は、TEMホーンアンテナによる電界を発生させます。