イミュニティ試験システム 近接照射イミュニティ試験システム
近年、非接触給電や無線機器の増加とともに、これらの機器が他の電子機器に近接する状況が増えることで、電磁干渉リスクが懸念されています。近接照射イミュニティ試験は近接したアンテナから放射される磁界および電界に対して、電子機器の耐性を評価する試験です。
低周波帯はループアンテナによる磁界、高周波帯は、TEMホーンアンテナによる電界を発生させます。
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詳細仕様
■ 磁界イミュニティ
項目 | 仕様1 | 仕様2 |
---|---|---|
周波数範囲 | 9kHz ~ 150kHz | 150kHz ~ 26MHz |
試験レベル | 30 A/m | 3 A/m |
変調方式 | AM 1 kHz 80% | パルス 2 Hz or 1 kHz、デューティーサイクル : 50 % |
■ RFイミュニティ
項目 | 仕様 |
---|---|
周波数範囲 | 380 MHz ~ 6 GHz |
試験レベル | 300 V/m |
変調方式 | パルス 2 Hz、 217 Hz、 1 kHz、デューティーサイクル : 50 % |
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