搭載電子機器および接続されるハーネスが強い電磁界ノイズに曝された際の耐性を評価する試験システムです。

TEM Cellでの試験では、TEM Cell 内の中心導体と外部導体の平行平板間に供試品を設置し、平行平板間で発生する電磁界に曝し規定の周波数・試験レベルで耐性を評価します。また、SAE規格等で導体間の寸法により上限周波数が規定され（限られており）試験領域も中心導体・外部導体間の3分の１の大きさが推奨されています。

ストリップラインでの試験ではストリップラインの平行平板間にハーネスを設置し、平行平板間に発生する電磁界ノイズに曝し規定の周波数および試験レベルで耐性の評価をします。（ストリップラインは開放型TEM モード発生装置のため、シールドルームや電波暗室が必要となります。）