TEM CELL／ストリップライン試験システム

イミュニティ試験システム TEM CELL／ストリップライン試験システム

搭載電子機器および接続されるハーネスが強い電磁界ノイズに曝された際の耐性を評価する試験システムです。

TEM Cellでの試験では、TEM Cell 内の中心導体と外部導体の平行平板間に供試品を設置し、平行平板間で発生する電磁界に曝し規定の周波数・試験レベルで耐性を評価します。また、SAE規格等で導体間の寸法により上限周波数が規定され（限られており）試験領域も中心導体・外部導体間の3分の１の大きさが推奨されています。

ストリップラインでの試験ではストリップラインの平行平板間にハーネスを設置し、平行平板間に発生する電磁界ノイズに曝し規定の周波数および試験レベルで耐性の評価をします。（ストリップラインは開放型TEM モード発生装置のため、シールドルームや電波暗室が必要となります。）

RF Testing

特徴

TEM CELL試験システム

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- ISO 11452-3、2004/104EC、97/24/EC、SAE J1113-24 規格に準拠したシステム
- 上限周波数１GHz・500MHz・400MHz・200MHz タイプをご用意いたしております。
- お客さまの用途により特殊改造ができます。（ECU 感度測定 etc.）
ストリップライン試験システム

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- ハーネス支持冶具・接合板など試験の再現性を向上する周辺装置をご用意しています。
- 測定を行う際のオプション（テーブル、GND プレーン等）を豊富に取り揃えています。

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詳細仕様

項目	仕様
測定周波数範囲	10kHz〜400MHz
試験レベル	200V/m
変調方式	AM 1kHz 80%
準拠規格名	SAE J1113/24，ISO 11452-3 （TEM Cell） SAE J1113/23，ISO 11452-5 （ストリップライン） 2004/104EC（旧：95/54EC），97/24/EC，JASO D001-94，JASO D011 その他各社メーカー規格