特徴

• 主な特徴

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  主な特徴

  • ボタン操作だけでパルス幅等の設定が行える為、試験条件設定の時間短縮ができます｡
  • 試験パルス波形の安定性が向上し、再現性の高い試験ができるようになりました。
  • 消耗品数を減らしコスト削減ができます。
  • ショートプラグ採用により、コモン／ノーマルモードの切換が容易に設定できます。
  • TEST TIME 設定により試験時間の設定が可能となりました。
  • 50Ω系終端器を試験器に内蔵し、容易に配線ができます。
  • より高速なパルス繰返し周期での試験が可能になりました。（INS-S220のみ）
  • アウトレットパネルにより、EUTのACプラグを直接接続できます。（オプション）
  • 各種プローブ、カップリング･アダプタなどにより、様々な試験ができます。（オプション）
  • 外付けの重畳ユニット（CDN）の追加により、EUT電源容量三相の試験もできます。（オプション）
  • 専用ソフトウェアを使用する事で、様々な試験条件で試験ができます。（オプション、INS-S420のみ）

  

• 市場トラブルの問題解決　高周波、エネルギー量変化ができる試験パルス

  

  パルス幅が狭い50ns～100ns程度のインパルスは、エネルギーが小さい代わりに短時間での立上がり／立下がりの計2度の過渡変動による電圧変動、および急峻に発生する電磁界での誘導結合による影響を電子回路に与えます。

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  市場トラブルの問題解決　高周波、エネルギー量変化ができる試験パルス

  パルス幅が狭い50ns～100ns程度のインパルスは、エネルギーが小さい代わりに短時間での立上がり／立下がりの計2度の過渡変動による電圧変動、および急峻に発生する電磁界での誘導結合による影響を電子回路に与えます。また、パルス幅の広い800ns～1000ns などのインパルスはエネルギー量が大きいため、回路へ大きな電圧変動を与えやすくなります。インパルス試験は国際規格IEC 61000-4-4で定められているファスト・トランジェント／バースト試験に比べ立ち上がり時間が高速なため、1GHｚ近くまでの高い周波数成分を含んでいます。このためEUTに対してノイズを印加した際に、より回路内部に侵入しやすく電子回路に影響を与えやすくなります。なお、インパルスのパルス幅により包含する周波数スペクトラムの成分および強度が異なるため、数種類のパルス幅での試験の実施をおすすめします。

  
  詳細はノイズテクニカルレポート（電源線の高周波ノイズ試験について）　https://www.noiseken.co.jp/products/catalog/emc/ins/1019/　をご覧ください。

• 試験結果の再現性が向上　より定量的な試験ができます

  

  従来の水銀リレー方式から半導体リレー方式に変更することで試験パルス波形の安定性が向上し、従来よりも定量的で試験結果の再現性が高い試験ができます。

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  試験結果の再現性が向上　より定量的な試験ができます

  従来の水銀リレー方式から半導体リレー方式に変更することで試験パルス波形の安定性が向上し、従来よりも定量的で試験結果の再現性が高い試験ができます。また、水銀リレー劣化時に発生する出力波形不良も無くなりました。