近年、非接触給電や無線機器の増加とともに、これらの機器が他の電子機器に近接する状況が増えることで、電磁干渉リスクが懸念されています。近接照射イミュニティ試験は近接したアンテナから放射される磁界および電界に対して、電子機器の耐性を評価する試験です。
低周波帯はループアンテナによる磁界、高周波帯は、TEMホーンアンテナによる電界を発生させます。

DPIイミュニティ試験は、IEC規格で標準化されている半導体製品（IC）に対してのイミュニティ試験です。
評価する半導体製品（IC）をテストボード上に搭載し、RF妨害電力を直接注入し、イミュニティ耐性を評価します。試験は、試験周波数毎に試験レベル（電力）を段階的に上げていき、その都度、性能確認を実施する必要があります。
誤動作発生時にはその誤動作状態を記録する必要があり、大変な手間と時間が掛かりますが、当社のDPIイミュニティ試験システムは試験の実施から誤動作判定までのプロセスを一貫して行い、試験時間と試験実施者の手間を省力化できる画期的な試験システムです。

供試品の妨害電波耐性の試験を行うためのシステムです。
電波暗室内にて供試品からアンテナを１～３mの距離に設置し、規格に定められた試験周波数および試験レベルの妨害波をアンテナより輻射し、誤動作の評価を行います。

供試品に接続されるケーブル類に不要な電磁界が誘起した場合の妨害耐性評価を行う試験システムです。

搭載電子機器および接続されるハーネスが強い電磁界ノイズに曝された際の妨害耐性を評価する試験システムです。電波暗室内に供試品（DUT）を設置し、さまざまなアンテナで規定の周波数・試験レベルの電界ノイズを照射し、耐性の評価をします。

車載電子機器および接続されるハーネスが強い電磁界に曝された際の妨害耐性を評価する試験システムです。電波暗室内に供試品（DUT）を設置し、さまざまなアンテナで規定の周波数・試験レベルの電磁波を照射し、耐性を評価します。

搭載電子機器に接続されたハーネスに強い電磁界ノイズが誘起した際の耐性を評価する試験システムです。シールドルームまたは電波暗室内で束ねられた線に対しインジェクションプローブを用いて規定の周波数および試験レベルの電磁ノイズを誘起し、耐性を評価します。試験方法は実測法と置換法の2種があります。

搭載電子機器が強い磁界ノイズに曝された際の耐性を評価する試験システムです。
２つのループアンテナを持つヘルムホルツコイルの中心に供試品（DUT）コイルより発生する磁界に曝し規定の周波数・試験レベルで耐性の評価をします。推奨領域はコイル直径の３分の1、コイル間の３分の1 ですのでコイルは供試品（DUT）の大きさにより選択します。

搭載電子機器に供給される電源線へ電磁界ノイズが誘起した際の耐性を評価する試験システムです。
規格に定められた仕様のトランスを用いて低周波数帯での周波数ポイント・妨害波レベルで耐性を評価します。

搭載電子機器および接続されるハーネスが強い電磁界ノイズに曝された際の耐性を評価する試験システムです。
TEM Cellでの試験では、TEM Cell 内の中心導体と外部導体の平行平板間に供試品を設置し、平行平板間で発生する電磁界に曝し規定の周波数・試験レベルで耐性を評価します。また、SAE規格等で導体間の寸法により上限周波数が規定され（限られており）試験領域も中心導体・外部導体間の3分の１の大きさが推奨されています。

ストリップラインでの試験ではストリップラインの平行平板間にハーネスを設置し、平行平板間に発生する電磁界ノイズに曝し規定の周波数および試験レベルで耐性の評価をします。（ストリップラインは開放型TEM モード発生装置のため、シールドルームや電波暗室が必要となります。）

近年、無線機器の増加とともに、これらの機器が他の電子機器に近接する状況が増えることで、電磁干渉リスクが懸念されています。近傍電磁界イミュニティ試験は周波数ごとの近傍電磁界イミュニティ用のアンテナにて強電界を発生させ、搭載電子機器の耐性を評価する試験です。

違法無線の存在や電子機器のモバイル化が進む中、従来の遠方界での電磁界ノイズだけでなく、近傍界での電磁界ノイズが問題となっています。
これらの問題を解決するため周波数ごとの近傍電磁界イミュニティアンテナで強電界を再現し、搭載電子機器の耐性を評価します。

放射イミュニティ試験が楽々
近接試験用の小型パワーアンプと信号発生器との組み合わせで、手軽に放射電磁界の試験ができます。
IEC 61000-4-3やISO 11452-9のプリテストとしてご活用いただけます。