EMC 対策の効率化
可視化システムがRSA306B でもご利用できます！

EMI対策の効率化に
電子機器の開発に不可欠なEMC対策における、事前測定・発生箇所の特定・対策効果の確認ができるシステムです。カメラの画像から電磁界プローブの位置を色判別にて検出し*1、測定した信号をリアルタイムで周波数解析し、電磁界強度レベルを測定対象物の実画像と重ね合わせてヒートマップ状に表示します。

*1 ： 国立大学法人 金沢大学 特願 2007-223275 および 株式会社ノイズ研究所 特許5205547による位置検出する方法です。

供試品に接続されたケーブルからの妨害電力の強度を測定・評価するシステムです。30MHzを超える周波数帯ではケーブルからの輻射によって妨害波が伝播されるため、雑音端子電圧測定とは異なるシステムで測定されます。白物家電を中心に規格で要求されています。

供試品に接続されたケーブルからの伝導性ノイズの強度を測定・評価するシステムです。
シールドルーム内に設置された供試品からの伝導性ノイズを擬似回路網（LISN/ISN）にて検出し、スペクトラムアナライザやEMIレシーバにて周波数およびレベルを測定します。

供試品より放射される不要輻射のノイズ強度を測定・評価するシステムです。
各国で自主規制を含む多くの妨害波規制が施行され、製品を市場に流通させるためにその規制値を満たすための対策・評価が必須条件となっています。

車載電子機器やハーネスより輻射される電磁界ノイズ／伝導性ノイズの強度を測定・評価するためのシステムです。
供試品（DUT）より発生する放射性ノイズ／伝導性ノイズをアンテナやプローブで検出し、EMI レシーバなどを用いて周波数およびレベルを測定します。

半導体エミッション測定は、IEC規格で標準化されている半導体（IC)に対するエミッション測定法です。
主にIEC61967-2/3/4/5/6/8までの６種類の測定法が規定されており、現在、これら６種類の測定法の中ではIEC61967-2（TEMセル法）、IEC61967-4（1Ω/150Ω法）の２種類が多く利用されています。
IEC61967-2は、小型の広い周波数特性のあるTEM Cellを用いた測定法です。TEMCellの外壁上部に角穴があり、その角穴に密着するように専用の測定基板を設置し、DUTからの輻射を測定するシステムです。
DUTからの輻射のみを測定するために、基板はDUT側が配置される側に表層グランド面を設け、そのグランド面とTEM Cell外壁とを密着させることで、DUTのみTEM Cell内に置かれるように配置します。
IEC61967-4はデバイスのグランドリターンに１Ωの抵抗を直列に配置し、その電圧降下から電流値を測定する方法です。
また、IOポートでは線路インピーダンスを150Ωとして、グラウンドとの電位差を測定します。
ノイズ研究所の半導体エミッション測定システムは、主にIEC61967-2（TEMセル法）、IEC61967-4（1Ω/150Ω法）の試験法において、専用のソフトウェアを用いて構築ができます。