EMC 対策の効率化
可視化システムがRSA306B でもご利用できます！

EMI対策の効率化に
電子機器の開発に不可欠なEMC対策における、事前測定・発生箇所の特定・対策効果の確認ができるシステムです。カメラの画像から電磁界プローブの位置を色判別にて検出し*1、測定した信号をリアルタイムで周波数解析し、電磁界強度レベルを測定対象物の実画像と重ね合わせてヒートマップ状に表示します。

*1 ： 国立大学法人 金沢大学 特願 2007-223275 および 株式会社ノイズ研究所 特許5205547による位置検出する方法です。

供試品に接続されたケーブルからの妨害電力の強度を測定・評価するシステムです。30MHzを超える周波数帯ではケーブルからの輻射によって妨害波が伝播されるため、雑音端子電圧測定とは異なるシステムで測定されます。白物家電を中心に規格で要求されています。

供試品に接続されたケーブルからの伝導性ノイズの強度を測定・評価するシステムです。
シールドルーム内に設置された供試品からの伝導性ノイズを擬似回路網（LISN/ISN）にて検出し、スペクトラムアナライザやEMIレシーバにて周波数およびレベルを測定します。

供試品より放射される不要輻射のノイズ強度を測定・評価するシステムです。
各国で自主規制を含む多くの妨害波規制が施行され、製品を市場に流通させるためにその規制値を満たすための対策・評価が必須条件となっています。

車載電子機器やハーネスより輻射される電磁界ノイズ／伝導性ノイズの強度を測定・評価するためのシステムです。
供試品（DUT）より発生する放射性ノイズ／伝導性ノイズをアンテナやプローブで検出し、EMI レシーバなどを用いて周波数およびレベルを測定します。

半導体エミッション測定は、IEC規格で標準化されている半導体（IC)に対するエミッション測定法です。
主にIEC61967-2/3/4/5/6/8までの６種類の測定法が規定されており、現在、これら６種類の測定法の中ではIEC61967-2（TEMセル法）、IEC61967-4（1Ω/150Ω法）の２種類が多く利用されています。
IEC61967-2は、小型の広い周波数特性のあるTEM Cellを用いた測定法です。TEMCellの外壁上部に角穴があり、その角穴に密着するように専用の測定基板を設置し、DUTからの輻射を測定するシステムです。
DUTからの輻射のみを測定するために、基板はDUT側が配置される側に表層グランド面を設け、そのグランド面とTEM Cell外壁とを密着させることで、DUTのみTEM Cell内に置かれるように配置します。
IEC61967-4はデバイスのグランドリターンに１Ωの抵抗を直列に配置し、その電圧降下から電流値を測定する方法です。
また、IOポートでは線路インピーダンスを150Ωとして、グラウンドとの電位差を測定します。
ノイズ研究所の半導体エミッション測定システムは、主にIEC61967-2（TEMセル法）、IEC61967-4（1Ω/150Ω法）の試験法において、専用のソフトウェアを用いて構築ができます。

イミュニティノイズの可視化
ノイズ発生器から電子機器に印加したノイズのリアルタイム電磁界波形を、実画像に重ね合わせて可視化するシステムです。
“ノイズ発生器から印加したノイズがEUT 内の電子回路にどのように伝わっているのか？” また、“その分布が対策により、どのように変化するのか？”
イミュニティ試験対策において有用な情報を得ることで効率的なノイズ対策が行えます。