エミッション測定システム 空間電磁界可視化システム EPS-02Ev3(小型・低価格版)
EMC 対策の効率化
可視化システムがRSA306B でもご利用できます!

特徴
主な特徴
主な特徴
ノイズ研究所のノイズ可視化システムEPS-02EV3がMDOシリーズに加えRSA306Bでも標準使用出来る様になりました!
空間電磁界可視化システムは、電子機器の開発に不可欠なEMC対策における、事前測定・発生箇所の特定・対策効果の確認ができるシステムです。
カメラの画像から電磁界センサーの位置を色判別にて検出し、測定した信号をリアルタイムで周波数解析し、電磁界強度レベルを測定対象物の実画像と重ね合わせてヒートマップ状に表示します。- エミッション測定時の対策ツールとしてご利用できます。
- ノイズの発生要因・分析が容易に確認できます。
- 対策前後の比較が簡単に確認できます。
- 電磁界プローブを変えることで製品全体から部品単体まで測定ができます。
- コンパクトで持ち運びに便利です。
- お客さま所有のスペアナや電磁界プローブを用いてシステム構築ができます。(要相談)
大小さまざまなサイズの測定ができます
read more様々な電磁界プローブを使用できます
大小さまざまなサイズの測定ができます
様々な電磁界プローブを使用できます
電磁界センサーはメーカーを問わず様々な種類のものを使用することができます。このため、電磁界センサーを変えることで部品や基板などの小さいものから、据え置き設備などの大型機器まで大小さまざまなサイズの測定ができます。また、カメラの配置等により複雑な形状のものなども測定ができます。
ノイズの発生頻度が簡単に確認できます
read more密度表示機能が追加されました
ノイズの発生頻度が簡単に確認できます
密度表示機能が追加されました
従来のスペクトラム表示機能に、発生頻度に応じて色分け表示する機能(密度表示機能)を追加しました。これにより測定周波数において、ノイズの発生頻度や振れ幅を簡単に確認することができるようになりました。通常の測定でノイズの振れ幅を確認(密度表示機能を使用)し、気になる箇所(振れ幅が大きいノイズや間欠のノイズなど)に対してスペクトログラム測定で詳細を確認するなど、解析の幅が広がりました。
ノイズ発生要因の解析が簡単に
read more3次元表示(時間・周波数・強度)ができます
ノイズ発生要因の解析が簡単に
3次元表示(時間・周波数・強度)ができます
ご好評頂いている空間電磁界可視化システムに従来の2次元(周波数とレベル)測定に加え、3次元(周波数、レベル、時間)測定が可能になりました。
これにより、ノイズの時間的変化が視覚的に確認できるようになり、不連続なノイズの発見など、ノイズの発生要因の解析が容易になりました。