特徴

• 主な特徴

  

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  主な特徴

  • エミッション測定時の対策ツールとしてご利用できます。
  • ノイズの発生要因・分析が手軽に簡単に確認できます。
  • 対策前後の比較が簡単に確認できます。
  • 電磁界プローブを変えることで製品全体から部品単体まで測定ができます。
  • コンパクトで持ち運びに便利です。
  • お客さま所有のスペアナや電磁界プローブを用いてシステム構築ができます。（要ご相談）

  

  

  

• 大小さまざまなサイズの測定ができます

  

  様々な電磁界プローブを使用できます

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  大小さまざまなサイズの測定ができます

  様々な電磁界プローブを使用できます

  電磁界プローブはメーカーを問わず様々な種類のものを使用することができます。このため、電磁界プローブを変えることで部品や基板などの小さいものから、据え置き設備などの大型機器まで大小さまざまなサイズの測定ができます。また、カメラの配置等により複雑な形状のものも測定できます。

  

• 標準対応のスペアナドライバが充実しました

  

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  標準対応のスペアナドライバが充実しました

  標準で使用できるスペクトラムアナライザの種類が追加され、お手持ちのスペクトラムアナライザを使用しての構築がより容易になりました。

  ローデシュワルツ	スペクトラムアナライザ	FSV、FSV3000、FPL1000
  	EMIレシーバ	ESR、ESRP
  キーサイトテクノロジー	シグナル・アナライザ	N9010A、N9010B
  テクトロニクス	オシロスコープ	MDO4000シリーズ
  	スペクトラムアナライザ	RSA306B

  その他のスペクトラムアナライザに関してはお問い合わせください。

  

• ノイズの発生頻度が簡単に確認できます

  

  密度表示機能で解析の幅が広がります

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  ノイズの発生頻度が簡単に確認できます

  密度表示機能で解析の幅が広がります

  スペクトラム表示機能で発生頻度に応じて色分け表示すること（密度表示機能）が可能になりました。これにより測定周波数において、ノイズの発生頻度や振れ幅を簡単に確認することができるようになりました。通常の測定でノイズの振れ幅を確認（密度表示機能を使用）し、気になる箇所（振れ幅が大きいノイズや間欠のノイズなど）に対してスペクトログラム測定で詳細を確認するなど、解析の幅が広がりました。

  

• ノイズ発生要因の解析が簡単になりました

  

  ３次元表示（時間・周波数・強度）ができます

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  ノイズ発生要因の解析が簡単になりました

  ３次元表示（時間・周波数・強度）ができます

  ご好評頂いている空間電磁界可視化システムに従来の２次元（周波数とレベル）測定に加え、３次元（周波数、レベル、時間）測定が可能になりました。これにより、ノイズの時間的変化が視覚的に確認できるようになり、不連続なノイズの発見など、ノイズの発生要因の解析が容易になりました。

  

• 波形の同時表示機能が新たに追加されました

  

  リアルタイムのスペクトラムデータが同時に確認できます

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  波形の同時表示機能が新たに追加されました

  リアルタイムのスペクトラムデータが同時に確認できます

  MAX HOLDもしくはMAX PEAK DATA波形表示時に、FREE RUN波形の同時表示が可能となりました。

  

• コメント機能が強化されました

  

  対策箇所などの記録が確認できます

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  コメント機能が強化されました

  対策箇所などの記録が確認できます

  対策箇所や特記事項などのコメントを登録したい位置にマーカーを表示させ、マップデータやスペクトログラムの時間軸にコメント登録が行える機能が追加されました。色分けされた各マーカーに対策箇所に対してのコメントなどを登録することにより、対策記録などの確認ができます。

  

• 測定ファイルの一覧表示機能が新たに追加されました

  

  蓄積した測定ファイルを表示させ対策履歴などが確認できます

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  測定ファイルの一覧表示機能が新たに追加されました

  蓄積した測定ファイルを表示させ対策履歴などが確認できます

  測定ファイルの一覧表示機能が追加され、保存した測定ファイルの一覧表示が可能となりました。蓄積した測定ファイルを一覧表示することにより、対策履歴などを俯瞰的に比較できます。

  

• 測定データの比較が簡単になりました

  

  差分表示機能を搭載しました

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  測定データの比較が簡単になりました

  差分表示機能を搭載しました

  測定データを並べて比較する従来方法のほか、同一ファイル内に比較対象ファイルを読み込むことで同一レンジでの比較ができるようになりました。また、データの差分表示機能により、測定データの差を色分けで比較できるようになりました。

  

• 簡単に過去のデータと同条件で測定ができます

  

  以前の測定と同一の測定条件で新規測定できる機能を追加しました。

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  簡単に過去のデータと同条件で測定ができます

  以前の測定と同一の測定条件で新規測定できる機能を追加しました。過去の測定データを読込むことで、測定周波数範囲やRBW・VBWなどの設定を同じ条件で測定することができます。

  

• カメラ画像ゴースト機能

  

  位置調整のために以前の画像を重ねて表示することができます。

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  カメラ画像ゴースト機能

  位置調整のために以前の画像を重ねて表示することができます。
  使用例①：試験前に以前の画像とカメラ位置を合わせる場合
  使用例②：試験中にカメラ位置がずれたときに再度合わせる場合

  

• 画像認識設定の簡素化

  

  画面上の色認識したい部分（プローブ先端）をクリックすることで、色認識に最適な色相・彩度・明度を自動調整するようになりました。

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  画像認識設定の簡素化

  画面上の色認識したい部分（プローブ先端）をクリックすることで、色認識に最適な色相・彩度・明度を自動調整するようになりました。

  

• 指定座標出力機能

  

  計測結果を外部のCADソフトへインポートしてCAD図面と実測データを重ね合わせ表示することができます。

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  指定座標出力機能

  計測結果を外部のCADソフトへインポートしてCAD図面と実測データを重ね合わせ表示することができます。

  

• 重ね合わせ表示機能が新たに追加されました

  

  データの解析機能を強化しました

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  重ね合わせ表示機能が新たに追加されました

  データの解析機能を強化しました

  ピーク値が最大のポイントでのスペクトラム、測定範囲での最大値のスペクトラム、指定したポインタでのスペクトラムなどの重ね合わせ表示機能が追加されました。重ね合わせ表示時にスペクトラムグラフをドラックすると、周波数を各データのレベル値が確認できます。

  

• その他

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  その他

  • 未測定ポイントの強調表示：未測定領域を白黒点滅で強調表示することで、測定時の取りこぼし等を防ぐことができます。

• 放射エミッション測定時のノイズ発生箇所の特定に

  

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  放射エミッション測定時のノイズ発生箇所の特定に