株式会社ノイズ研究所

エミッション測定システム 1Ω/150Ω法エミッション測定システム

半導体エミッション測定は、IEC規格で標準化されている半導体(IC)に対するエミッション測定法です。
主にIEC61967-2/3/4/5/6/8までの6種類の測定法が規定されており、現在、これら6種類の測定法の中ではIEC61967-2(TEMセル法)、IEC61967-4(1Ω/150Ω法)の2種類が多く利用されています。
IEC61967-2は、小型の広い周波数特性のあるTEM Cellを用いた測定法です。TEMCellの外壁上部に角穴があり、その角穴に密着するように専用の測定基板を設置し、DUTからの輻射を測定するシステムです。
DUTからの輻射のみを測定するために、基板はDUT側が配置される側に表層グランド面を設け、そのグランド面とTEM Cell外壁とを密着させることで、DUTのみTEM Cell内に置かれるように配置します。
IEC61967-4はデバイスのグランドリターンに1Ωの抵抗を直列に配置し、その電圧降下から電流値を測定する方法です。
また、IOポートでは線路インピーダンスを150Ωとして、グラウンドとの電位差を測定します。
ノイズ研究所の半導体エミッション測定システムは、主にIEC61967-2(TEMセル法)、IEC61967-4(1Ω/150Ω法)の試験法において、専用のソフトウェアを用いて構築ができます。

1Ω/150Ω法エミッション測定システム製品画像
RF Testing

Contactお問い合わせ

News

  1. 2025年11月17日 お知らせ

    PIERS(Photonics and Electromagnetics Research Symposium)に投稿・発表、およびスポンサーとして参画しました

  2. 2025年10月27日 カスタマーサービス センター

    修理・校正のお見積り依頼方法に関してのご案内

  3. 2025年9月25日 イベント情報

    第8回名古屋ネプコンジャパン エレクトロニクス開発・実装展に出展します

  4. 2025年9月24日 お知らせ

    NoiseKen 50th Anniversary 『50年後のEMCを創造する』ウェブサイト公開のご案内

view all

Contactお問い合わせ