株式会社ノイズ研究所

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製造終了品  電磁波解析測定システム ESV-3000

OLD Products

本製品は製造・販売終了となっております。

電磁波解析測定システム ESV-3000

基板からの輻射ノイズを可視化

本製品は『EMC対策は設計の上流から』をコンセプトに
基板の開発段階でノイズ源を可視化し対策するための
測定システムです。
本製品導入の際は、別途ソフトウェアなどが必要です。
(ESV-3000XPe又はXP-USBを選択ください)

 

 

 

 

  • 基板からの輻射ノイズを自動測定および可視化できます。
  • 測定周波数は150kHz~3GHz(オプション含む)
  • 測定エリアは300×350mmまで測定できます。
  • 電界・磁界ノイズ成分の切り分けができます。

 

【基本仕様】 

項目仕様
測定方式XYステージによる電磁界プローブ走査方式
周波数範囲150Hz~3GHz(オプション含む)
測定エリア最大350mm×300mm
最小走査/ステップ1mm以上/0.1mmステップ
対応スペアナE4402B/U3741/MS2661Cなど
寸法W601×H980×D662mm
質量約37kg

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