エミッション測定システム EPSオプション ニアフィールドプローブ MODEL：LF1 set／RF1 set／RF2 set／RF3 set
EPS-02Ev3システムではその他様々なタイプの電磁界プローブを組み合わて使用することができます。下記に紹介をする電磁界プローブは、ドイツ LANGER社製のニアフィールドプローブで、部品の単一ピンレベルから大きなコンポーネントやアセンブリに対してまでの測定を考慮した様々なプローブをご用意しております。また、低周波用やより高い周波数帯域での測定を考慮したプローブもご用意しております。EPS-02Ev3との組み合わせに是非ご利用ください。
各種ニアフィールドプローブの詳細な仕様、およびEPS-02Ev3との組み合わせに関しては弊社営業までお問い合わせ下さい。
特徴
ニアフィールドプローブ Model : LF1 set
read more100kHz～50MHz 磁界
ニアフィールドプローブ Model : LF1 set
100kHz～50MHz 磁界
LF1 setは、電子アセンブリ上の100kHz～50MHzの磁界を測定するための4種類のシールドプローブのセットです。 プローブヘッドは、単一ピンやより大きなコンポーネント、およびアセンブリ上の電磁干渉源の検出用に設計されています。 最初、LF-R 400プローブで大枠の発生源を特定し、次にLF-B 3やLF-U 5、LF-U 2.5のような高分解能のプローブを使用して発生源を特定します。磁界プローブは、電界成分を抑える構造となっています。
※ 本プローブをEPS-02Ev3と接続するためには変換コネクタ（MODEL:02-00050A）が必要です。
ニアフィールドプローブ Model : RF1 set
read more30MHz～3GHz 電界／磁界
ニアフィールドプローブ Model : RF1 set
30MHz～3GHz 電界／磁界
RF1 setは、電子アセンブリ上の30MHz～3GHzまでの電界および磁界を測定するための4種類のプローブのセットです。それぞれのプローブは、電子アセンブリに非常に近い距離での測定に向いています。電磁干渉源を特定するために、単一のICピンや導電路、コンポーネント、およびコネクタ上に配置し測定します。これらのプローブを使用することで、磁界の向きや電界分布を確認することができます。磁界プローブは、電界成分を抑える構造となっています。
※ 本プローブをEPS-02Ev3と接続するためには変換コネクタ（MODEL:02-00050A）が必要です。
ニアフィールドプローブ Model : RF2 set
read more30MHz～3GHz 磁界
ニアフィールドプローブ Model : RF2 set
30MHz～3GHz 磁界
RF2 setは、電子アセンブリ上の30MHz～3GHzまでの電界および磁界を測定するための4種類のプローブのセットです。 プローブヘッドは、アセンブリ上のRF磁場からの干渉源を段階的に突き止めることが可能です。最初
