エミッション測定システム  EPSオプション ニアフィールドプローブ MODEL:LF1 set/RF1 set/RF2 set/RF3 set
EPS-02Ev3システムではその他様々なタイプの電磁界プローブを組み合わて使用することができます。下記に紹介をする電磁界プローブは、ドイツ LANGER社製のニアフィールドプローブで、部品の単一ピンレベルから大きなコンポーネントやアセンブリに対してまでの測定を考慮した様々なプローブをご用意しております。また、低周波用やより高い周波数帯域での測定を考慮したプローブもご用意しております。EPS-02Ev3との組み合わせに是非ご利用ください。
各種ニアフィールドプローブの詳細な仕様、およびEPS-02Ev3との組み合わせに関しては弊社営業までお問い合わせ下さい。

特徴
ニアフィールドプローブ Model : LF1 set
read more100kHz~50MHz 磁界
100kHz~50MHz 磁界
LF1 setは、電子アセンブリ上の100kHz~50MHzの磁界を測定するための4種類のシールドプローブのセットです。 プローブヘッドは、単一ピンやより大きなコンポーネント、およびアセンブリ上の電磁干渉源の検出用に設計されています。 最初、LF-R 400プローブで大枠の発生源を特定し、次にLF-B 3やLF-U 5、LF-U 2.5のような高分解能のプローブを使用して発生源を特定します。磁界プローブは、電界成分を抑える構造となっています。
※ 本プローブをEPS-02Ev3と接続するためには変換コネクタ(MODEL:02-00050A)が必要です。
ニアフィールドプローブ Model : RF1 set
read more30MHz~3GHz 電界/磁界
30MHz~3GHz 電界/磁界
RF1 setは、電子アセンブリ上の30MHz~3GHzまでの電界および磁界を測定するための4種類のプローブのセットです。それぞれのプローブは、電子アセンブリに非常に近い距離での測定に向いています。電磁干渉源を特定するために、単一のICピンや導電路、コンポーネント、およびコネクタ上に配置し測定します。これらのプローブを使用することで、磁界の向きや電界分布を確認することができます。磁界プローブは、電界成分を抑える構造となっています。
※ 本プローブをEPS-02Ev3と接続するためには変換コネクタ(MODEL:02-00050A)が必要です。
ニアフィールドプローブ Model : RF2 set
read more30MHz~3GHz 磁界
30MHz~3GHz 磁界
RF2 setは、電子アセンブリ上の30MHz~3GHzまでの電界および磁界を測定するための4種類のプローブのセットです。 プローブヘッドは、アセンブリ上のRF磁場からの干渉源を段階的に突き止めることが可能です。最初、RF-R 400-1およびRF-R 50-1のプローブを使用して、遠距離からの電磁干渉を検出できます。 次に、より高い分解能のRF-B 3-2およびRF-U 5-2プローブで、干渉源をより正確に検出することができます。これらのプローブを使用することで、磁界の向きや電界分布を確認することができます。磁界プローブは、電界成分を抑える構造となっています。
※ 本プローブをEPS-02Ev3と接続するためには変換コネクタ(MODEL:02-00050A)が必要です。
ニアフィールドプローブ Model : RF3 mini set
read more30MHz~3GHz 磁界
30MHz~3GHz 磁界
RF3 mini setは、開発段階で電子アセンブリ上の30MHz~3GHzの磁場を測定するため、1mm以下の分解能を持つ2つのプローブのセットです。プローブヘッドは、詳細な測定用に設計されています。これらプローブを使用することで、電子アセンブリ上の磁界の指向性および分布を検出することができます。プローブはシース構造となっており、電界成分をシールドします。また、本プローブの測定に際しては、20 dBまたは30 dBのプリアンプを使用することをお勧めします。
※ 本プローブをEPS-02Ev3と接続するためには変換コネクタ(MODEL:02-00050A)が必要です。
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EMI対策の効率化に
電子機器の開発に不可欠なEMC対策における、事前測定・発生箇所の特定・対策効果の確認ができるシステムです。カメラの画像から電磁界プローブの位置を色判別にて検出し*1、測定した信号をリアルタイムで周波数解析し、電磁界強度レベルを測定対象物の実画像と重ね合わせてヒートマップ状に表示します。
*1 : 国立大学法人 金沢大学 特願 2007-223275 および 株式会社ノイズ研究所 特許5205547による位置検出する方法です。空間電磁界可視化システム EPS-02Ev3
雑音端子電圧測定をリーズナブルに
本システムは雑音端子電圧測定システムで使用するEMIレシーバーをスペクトラムアナライザにすることで、簡易的に雑音端子電圧の測定ができるシステムです。安価なスペクトラムアナライザを使用する事でリーズナブルにシステムを導入できます。
「簡易でよいので確認できる設備が手元に欲しい!」「プリチェック用の設備が欲しい!」というお客さまにおすすめのシステムです。雑音端子電圧測定システムは、供試品の電源線から流出する伝導性ノイズの強度を測定・評価するシステムです。シールドルーム内に設置された供試品からの伝導性ノイズを擬似電源回路網で検出し、スペクトラムアナライザで周波数および強度を測定します。簡易雑音端子電圧測定システム
供試品に接続されたケーブルからの妨害電力の強度を測定・評価するシステムです。30MHzを超える周波数帯ではケーブルからの輻射によって妨害波が伝播されるため、雑音端子電圧測定とは異なるシステムで測定されます。白物家電を中心に規格で要求されています。妨害波電力測定システム
供試品に接続されたケーブルからの伝導性ノイズの強度を測定・評価するシステムです。
シールドルーム内に設置された供試品からの伝導性ノイズを擬似回路網(LISN/ISN)にて検出し、スペクトラムアナライザやEMIレシーバにて周波数およびレベルを測定します。雑音端子電圧測定システム
供試品より放射される不要輻射のノイズ強度を測定・評価するシステムです。
各国で自主規制を含む多くの妨害波規制が施行され、製品を市場に流通させるためにその規制値を満たすための対策・評価が必須条件となっています。不要輻射(EMI)測定システム
車載電子機器やハーネスより輻射される電磁界ノイズ/伝導性ノイズの強度を測定・評価するためのシステムです。
供試品(DUT)より発生する放射性ノイズ/伝導性ノイズをアンテナやプローブで検出し、EMI レシーバなどを用いて周波数およびレベルを測定します。車載機器用エミッション測定システム(広帯域・狭帯域エミッション測定システム)
半導体エミッション測定は、IEC規格で標準化されている半導体(IC)に対するエミッション測定法です。
主にIEC61967-2/3/4/5/6/8までの6種類の測定法が規定されており、現在、これら6種類の測定法の中ではIEC61967-2(TEMセル法)、IEC61967-4(1Ω/150Ω法)の2種類が多く利用されています。
IEC61967-2は、小型の広い周波数特性のあるTEM Cellを用いた測定法です。TEMCellの外壁上部に角穴があり、その角穴に密着するように専用の測定基板を設置し、DUTからの輻射を測定するシステムです。
DUTからの輻射のみを測定するために、基板はDUT側が配置される側に表層グランド面を設け、そのグランド面とTEM Cell外壁とを密着させることで、DUTのみTEM Cell内に置かれるように配置します。
IEC61967-4はデバイスのグランドリターンに1Ωの抵抗を直列に配置し、その電圧降下から電流値を測定する方法です。
また、IOポートでは線路インピーダンスを150Ωとして、グラウンドとの電位差を測定します。
ノイズ研究所の半導体エミッション測定システムは、主にIEC61967-2(TEMセル法)、IEC61967-4(1Ω/150Ω法)の試験法において、専用のソフトウェアを用いて構築ができます。1Ω/150Ω法エミッション測定システム