エミッション測定システム 空間電磁界可視化システム EPS-02Ev3（小型・低価格版）
EMC 対策の効率化
可視化システムがRSA306B でもご利用できます！
特徴
主な特徴
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ノイズ研究所のノイズ可視化システムEPS-02EV3がMDOシリーズに加えRSA306Bでも標準使用出来る様になりました！
空間電磁界可視化システムは、電子機器の開発に不可欠なEMC対策における、事前測定・発生箇所の特定・対策効果の確認ができるシステムです。
カメラの画像から電磁界センサーの位置を色判別にて検出し、測定した信号をリアルタイムで周波数解析し、電磁界強度レベルを測定対象物の実画像と重ね合わせてヒートマップ状に表示します。- エミッション測定時の対策ツールとしてご利用できます。
- ノイズの発生要因・分析が容易に確認できます。
- 対策前後の比較が簡単に確認できます。
- 電磁界プローブを変えることで製品全体から部品単体まで測定ができます。
- コンパクトで持ち運びに便利です。
- お客さま所有のスペアナや電磁界プローブを用いてシステム構築ができます。（要相談）
大小さまざまなサイズの測定ができます
read more様々な電磁界プローブを使用できます
様々な電磁界プローブを使用できます
電磁界センサーはメーカーを問わず様々な種類のものを使用することができます。このため、電磁界センサーを変えることで部品や基板などの小さいものから、据え置き設備などの大型機器まで大小さまざまなサイズの測定ができます。また、カメラの配置等により複雑な形状のものなども測定ができます。
ノイズの発生頻度が簡単に確認できます
read more密度表示機能が追加されました
密度表示機能が追加されました
スペクトラム表示機能で発生頻度に応じて色分け表示すること（密度表示機能）が可能になりました。これにより測定周波数において、ノイズの発生頻度や振れ幅を簡単に確認することができるようになりました。通常の測定でノイズの振れ幅を確認（密度表示機能を使用）し、気になる箇所（振れ幅が大きいノイズや間欠のノイズなど）に対してスペクトログラム測定で詳細を確認するなど、解析の幅が広がりました。
ノイズ発生要因の解析が簡単になりました
read more３次元表示（時間・周波数・強度）ができます
３次元表示（時間・周波数・強度）ができます
ご好評頂いている空間電磁界可視化システムに従来の２次元（周波数とレベル）測定に加え、３次元（周波数、レベル、時間）測定が可能になりました。これにより、ノイズの時間的変化が視覚的に確認できるようになり、不連続なノイズの発見など、ノイズの発生要因の解析が容易になりました。
波形の同時表示機能が新たに追加されました
read moreリアルタイムのスペクトラムデータが同時に確認できます
リアルタイムのスペクトラムデータが同時に確認できますMAX HOLDもしくはMAX PEAK DATA波形表示時に、FREE RUN波形の同時表示が可能となりました。
コメント機能が強化されました
read more対策箇所などの記録が確認できます
対策箇所などの記録が確認できます
対策箇所や特記事項などのコメントを登録したい位置にマーカーを表示させ、マップデータやスペクトログラムの時間軸にコメント登録が行える機能が追加されました。色分けされた各マーカーに対策箇所に対してのコメントなどを登録することにより、対策記録などの確認ができます。
測定ファイルの一覧表示機能が新たに追加されました
read more蓄積した測定ファイルを表示させ対策履歴などが確認できます
蓄積した測定ファイルを表示させ対策履歴などが確認できます
蓄積した測定ファイルを表示させ対策履歴などが確認できます測定ファイルの一覧表示機能が追加され、保存した測定ファイルの一覧表示が可能となりました。蓄積した測定ファイルを一覧表示することにより、対策履歴などを俯瞰的に比較できます。
測定データの比較が簡単になりました
read more差分表示機能を搭載しました
差分表示機能を搭載しました
測定データを並べて比較する従来方法のほか、同一ファイル内に比較対象ファイルを読み込むことで同一レンジでの比較検討ができるようになりました。また、データの差分標示機能により、測定データの差を色分けで簡単に比較できるようになりました。
重ね合わせ表示機能が新たに追加されました
read moreデータの解析機能を強化しました
データの解析機能を強化しました
ピーク値が最大のポイントでのスペクトラム、測定範囲での最大値のスペクトラム、指定したポインタでのスペクトラムなどの重ね合わせ表示機能が追加されました。重ね合わせ表示時にスペクトラムグラフをドラックすると、周波数を各データのレベル値が確認できます。
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ニアフィールドプローブ MODEL：LF1 set／RF1 set／RF2 set／RF3 set
EPS-02Ev3システムではその他様々なタイプの電磁界プローブを組み合わて使用することができます。下記に紹介をする電磁界プローブは、ドイツ LANGER社製のニアフィールドプローブで、部品の単一ピンレベルから大きなコンポーネントやアセンブリに対してまでの測定を考慮した様々なプローブをご用意しております。また、低周波用やより高い周波数帯域での測定を考慮したプローブもご用意しております。EPS-02Ev3との組み合わせに是非ご利用ください。
各種ニアフィールドプローブの詳細な仕様、およびEPS-02Ev3との組み合わせに関しては弊社営業までお問い合わせ下さい。
プリアンプ MODEL：00-00012A/14A/16A/19A
EPS-02シリーズ他、様々な用途に使用できる高性能プリアンプです。
3色プローブカバーヘッド
各種プローブ先端のヘッドカバーのセットです。プローブ先端に取り付けることで、EPS-02シリーズのカメラ画像認識が容易になります。ケースにはプローブカバーヘッドを取り付けた状態で、電磁界プローブを収納することができ、未使用のプローブカバーヘッドも収納することができます。
交換用3色プローブカバーヘッド
3色プローブカバーヘッドの交換用プローブヘッドカバーです。
電磁界プローブ MODEL：EM-6992
関連製品
EPS-02EMFv2は、測定した磁界の周波数データを保存することができますので、対策するポイントを容易に特定することができます。
EPS-02Hv2は、磁界センサー測定部からのデータを直読し可視化することができます。非常にコンパクトで持ち運び等にも良く、現場での測定などに便利です。
EMI対策の効率化に
電子機器の開発に不可欠なEMC対策における、事前測定・発生箇所の特定・対策効果の確認ができるシステムです。カメラの画像から電磁界プローブの位置を色判別にて検出し*1、測定した信号をリアルタイムで周波数解析し、電磁界強度レベルを測定対象物の実画像と重ね合わせてヒートマップ状に表示します。
*1 ： 国立大学法人 金沢大学 特願 2007-223275 および 株式会社ノイズ研究所 特許5205547による位置検出する方法です。
雑音端子電圧測定をリーズナブルに
本システムは雑音端子電圧測定システムで使用するEMIレシーバーをスペクトラムアナライザにすることで、簡易的に雑音端子電圧の測定ができるシステムです。安価なスペクトラムアナライザを使用する事でリーズナブルにシステムを導入できます。
「簡易でよいので確認できる設備が手元に欲しい！」「プリチェック用の設備が欲しい！」というお客さまにおすすめのシステムです。雑音端子電圧測定システムは、供試品の電源線から流出する伝導性ノイズの強度を測定・評価するシステムです。シールドルーム内に設置された供試品からの伝導性ノイズを擬似電源回路網で検出し、スペクトラムアナライザで周波数および強度を測定します。
供試品に接続されたケーブルからの妨害電力の強度を測定・評価するシステムです。30MHzを超える周波数帯ではケーブルからの輻射によって妨害波が伝播されるため、雑音端子電圧測定とは異なるシステムで測定されます。白物家電を中心に規格で要求されています。
供試品に接続されたケーブルからの伝導性ノイズの強度を測定・評価するシステムです。
シールドルーム内に設置された供試品からの伝導性ノイズを擬似回路網（LISN/ISN）にて検出し、スペクトラムアナライザやEMIレシーバにて周波数およびレベルを測定します。
供試品より放射される不要輻射のノイズ強度を測定・評価するシステムです。
各国で自主規制を含む多くの妨害波規制が施行され、製品を市場に流通させるためにその規制値を満たすための対策・評価が必須条件となっています。
車載電子機器やハーネスより輻射される電磁界ノイズ／伝導性ノイズの強度を測定・評価するためのシステムです。
供試品（DUT）より発生する放射性ノイズ／伝導性ノイズをアンテナやプローブで検出し、EMI レシーバなどを用いて周波数およびレベルを測定します。
半導体エミッション測定は、IEC規格で標準化されている半導体（IC)に対するエミッション測定法です。
主にIEC61967-2/3/4/5/6/8までの６種類の測定法が規定されており、現在、これら６種類の測定法の中ではIEC61967-2（TEMセル法）、IEC61967-4（1Ω/150Ω法）の２種類が多く利用されています。
IEC61967-2は、小型の広い周波数特性のあるTEM Cellを用いた測定法です。TEMCellの外壁上部に角穴があり、その角穴に密着するように専用の測定基板を設置し、DUTからの輻射を測定するシステムです。
DUTからの輻射のみを測定するために、基板はDUT側が配置される側に表層グランド面を設け、そのグランド面とTEM Cell外壁とを密着させることで、DUTのみTEM Cell内に置かれるように配置します。
IEC61967-4はデバイスのグランドリターンに１Ωの抵抗を直列に配置し、その電圧降下から電流値を測定する方法です。
また、IOポートでは線路インピーダンスを150Ωとして、グラウンドとの電位差を測定します。
ノイズ研究所の半導体エミッション測定システムは、主にIEC61967-2（TEMセル法）、IEC61967-4（1Ω/150Ω法）の試験法において、専用のソフトウェアを用いて構築ができます。
