エミッション測定システム 空間電磁界可視化システム EPS-02Ev3
EMI対策の効率化に
電子機器の開発に不可欠なEMC対策における、事前測定・発生箇所の特定・対策効果の確認ができるシステムです。カメラの画像から電磁界プローブの位置を色判別にて検出し*1、測定した信号をリアルタイムで周波数解析し、電磁界強度レベルを測定対象物の実画像と重ね合わせてヒートマップ状に表示します。
*1 ： 国立大学法人 金沢大学 特願 2007-223275 および 株式会社ノイズ研究所 特許5205547による位置検出する方法です。
特徴
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主な特徴
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- エミッション測定時の対策ツールとしてご利用できます。
- ノイズの発生要因・分析が手軽に簡単に確認できます。
- 対策前後の比較が簡単に確認できます。
- 電磁界プローブを変えることで製品全体から部品単体まで測定ができます。
- コンパクトで持ち運びに便利です。
- お客さま所有のスペアナや電磁界プローブを用いてシステム構築ができます。（要ご相談）
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大小さまざまなサイズの測定ができます
read more様々な電磁界プローブを使用できます
様々な電磁界プローブを使用できます
電磁界プローブはメーカーを問わず様々な種類のものを使用することができます。このため、電磁界プローブを変えることで部品や基板などの小さいものから、据え置き設備などの大型機器まで大小さまざまなサイズの測定ができます。また、カメラの配置等により複雑な形状のものも測定できます。
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標準対応のスペアナドライバが充実しました
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標準で使用できるスペクトラムアナライザの種類が追加され、お手持ちのスペクトラムアナライザを使用しての構築がより容易になりました。
ローデシュワルツ スペクトラムアナライザ FSV、FSV3000、FPL1000 EMIレシーバ ESR、ESRP キーサイトテクノロジー シグナル・アナライザ N9010A、N9010B テクトロニクス オシロスコープ MDO4000シリーズ スペクトラムアナライザ RSA306B その他のスペクトラムアナライザに関してはお問い合わせください。
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ノイズの発生頻度が簡単に確認できます
read more密度表示機能で解析の幅が広がります
密度表示機能で解析の幅が広がります
スペクトラム表示機能で発生頻度に応じて色分け表示すること（密度表示機能）が可能になりました。これにより測定周波数において、ノイズの発生頻度や振れ幅を簡単に確認することができるようになりました。通常の測定でノイズの振れ幅を確認（密度表示機能を使用）し、気になる箇所（振れ幅が大きいノイズや間欠のノイズなど）に対してスペクトログラム測定で詳細を確認するなど、解析の幅が広がりました。
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ノイズ発生要因の解析が簡単になりました
read more３次元表示（時間・周波数・強度）ができます
３次元表示（時間・周波数・強度）ができます
ご好評頂いている空間電磁界可視化システムに従来の２次元（周波数とレベル）測定に加え、３次元（周波数、レベル、時間）測定が可能になりました。これにより、ノイズの時間的変化が視覚的に確認できるようになり、不連続なノイズの発見など、ノイズの発生要因の解析が容易になりました。
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波形の同時表示機能が新たに追加されました
read moreリアルタイムのスペクトラムデータが同時に確認できます
リアルタイムのスペクトラムデータが同時に確認できます
MAX HOLDもしくはMAX PEAK DATA波形表示時に、FREE RUN波形の同時表示が可能となりました。
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コメント機能が強化されました
read more対策箇所などの記録が確認できます
対策箇所などの記録が確認できます
対策箇所や特記事項などのコメントを登録したい位置にマーカーを表示させ、マップデータやスペクトログラムの時間軸にコメント登録が行える機能が追加されました。色分けされた各マーカーに対策箇所に対してのコメントなどを登録することにより、対策記録などの確認ができます。
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測定ファイルの一覧表示機能が新たに追加されました
read more蓄積した測定ファイルを表示させ対策履歴などが確認できます
蓄積した測定ファイルを表示させ対策履歴などが確認できます
測定ファイルの一覧表示機能が追加され、保存した測定ファイルの一覧表示が可能となりました。蓄積した測定ファイルを一覧表示することにより、対策履歴などを俯瞰的に比較できます。
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測定データの比較が簡単になりました
read more差分表示機能を搭載しました
差分表示機能を搭載しました
測定データを並べて比較する従来方法のほか、同一ファイル内に比較対象ファイルを読み込むことで同一レンジでの比較ができるようになりました。また、データの差分表示機能により、測定データの差を色分けで比較できるようになりました。
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簡単に過去のデータと同条件で測定ができます
read more以前の測定と同一の測定条件で新規測定できる機能を追加しました。
以前の測定と同一の測定条件で新規測定できる機能を追加しました。過去の測定データを読込むことで、測定周波数範囲やRBW・VBWなどの設定を同じ条件で測定することができます。
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カメラ画像ゴースト機能
read more位置調整のために以前の画像を重ねて表示することができます。
位置調整のために以前の画像を重ねて表示することができます。
使用例①：試験前に以前の画像とカメラ位置を合わせる場合
使用例②：試験中にカメラ位置がずれたときに再度合わせる場合 -
画像認識設定の簡素化
read more画面上の色認識したい部分（プローブ先端）をクリックすることで、色認識に最適な色相・彩度・明度を自動調整するようになりました。
画面上の色認識したい部分（プローブ先端）をクリックすることで、色認識に最適な色相・彩度・明度を自動調整するようになりました。
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指定座標出力機能
read more計測結果を外部のCADソフトへインポートしてCAD図面と実測データを重ね合わせ表示することができます。
計測結果を外部のCADソフトへインポートしてCAD図面と実測データを重ね合わせ表示することができます。
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重ね合わせ表示機能が新たに追加されました
read moreデータの解析機能を強化しました
データの解析機能を強化しました
ピーク値が最大のポイントでのスペクトラム、測定範囲での最大値のスペクトラム、指定したポインタでのスペクトラムなどの重ね合わせ表示機能が追加されました。重ね合わせ表示時にスペクトラムグラフをドラックすると、周波数を各データのレベル値が確認できます。
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その他
read more- 未測定ポイントの強調表示：未測定領域を白黒点滅で強調表示することで、測定時の取りこぼし等を防ぐことができます。
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放射エミッション測定時のノイズ発生箇所の特定に
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詳細仕様
■仕様
| 周波数範囲 | 電磁界プローブ、プリアンプ、スペクトラムアナライザの仕様に依存 |
| 測定単位 | dBμV、dBm |
| データ記録方式 | Single／Free Run／Max Hold／Max Peak Data※ |
| 補助機能 | 保存／読み込み／エクスポート／コメント入力／ファクター再読込み／カメラ画像撮り直し／カメラ画像の上下・左右反転／カメラ画像のゴースト表示／画面の拡大・縮小 |
| 対応OS | Microsoft® Windows® 10 / 11（日本語版 / 英語版） |
- Max Peak Data：各測定ポイントで測定されたトレースデータの中から、一番大きいピーク値があるトレースデータを表示します。
■システム
| システム構成例 | 電磁界プロ−ブ、BNC(P)-N(P)コネクタ同軸ケーブル（02-000150A）、3色プローブカバーヘッド、RFプリアンプ（00-00019A）、 スペクトラムアナライザ、制御用PC |
| 添付品 | Webカメラ、カメラ三脚、カメラ用USB延長ケーブル（2m）、延長ポール、LANケーブル（2m）、セットアップメディア（ソフトウェア）、USBプロテクトキー、 クイックスタートガイド |
| タイプ | 電界／磁界 | 構造 |
|---|---|---|
| 6cm Loop | 磁界アンテナ | シールデッドループ |
| 3cm Loop | シールデッドループ | |
| 1cm Loop | シールデッドループ | |
| 3.6cm Ball | 電界アンテナ | 球状ダイポール |
| 6mm Stub Tip | ショートモノポール |
■推奨PCスペック
| 項目 | EPS-02Ev3 |
|---|---|
| OS | Microsoft® Windows® 10 / 11（日本語版 / 英語版） |
| CPU | Intel Core™ i5 以上（i7 以上を推奨） |
| メモリ | 8 GB 以上を推奨 |
| ハードディスク | 10 GB以上の空きがあること |
| ディスプレイ | WXGA解像度（1366×768）以上必須 フルHD解像度（1920×1080）を推奨 |
上記の他に下記の条件があります。
- クラウドサービスを使用したソフトウェアやオンラインストレージを利用される場合は動作保証できません。
- バージョンアップ版とマイナーバージョンアップ版のインストールにはDVDドライブが必要です。
- USBポートの空きがあること。（マウスを含めず２または３ポート占有します）
関連情報
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可視化技術を利用した近傍電磁界測定システム
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EPS-02Ev3ソフトウェアバージョンアップ(Ver.3.3.0.0)の紹介
read more今回、空間電磁界可視化システム EPS-02Ev3のソフトウェアがバージョンされましたので、追加された新機能等をご紹介します。 クリック測定機能の追加と左クリック動作（測定時補助メニュー） 従来は測定中にマウスで左クリ […]
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ニアフィールドプローブ MODEL：LF1 set／RF1 set／RF2 set／RF3 set
EPS-02Ev3システムではその他様々なタイプの電磁界プローブを組み合わて使用することができます。下記に紹介をする電磁界プローブは、ドイツ LANGER社製のニアフィールドプローブで、部品の単一ピンレベルから大きなコンポーネントやアセンブリに対してまでの測定を考慮した様々なプローブをご用意しております。また、低周波用やより高い周波数帯域での測定を考慮したプローブもご用意しております。EPS-02Ev3との組み合わせに是非ご利用ください。
各種ニアフィールドプローブの詳細な仕様、およびEPS-02Ev3との組み合わせに関しては弊社営業までお問い合わせ下さい。 -
プリアンプ MODEL：00-00012A/14A/16A/19A
EPS-02シリーズ他、様々な用途に使用できる高性能プリアンプです。 -
3色プローブカバーヘッド
各種プローブ先端のヘッドカバーのセットです。プローブ先端に取り付けることで、EPS-02シリーズのカメラ画像認識が容易になります。ケースにはプローブカバーヘッドを取り付けた状態で、電磁界プローブを収納することができ、未使用のプローブカバーヘッドも収納することができます。 -
交換用3色プローブカバーヘッド
3色プローブカバーヘッドの交換用プローブヘッドカバーです。 -
電磁界プローブ MODEL：EM-6992
カタログ・技術資料
セミナー動画
関連製品
その他製品
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EMC 対策の効率化
可視化システムがRSA306B でもご利用できます！ -
EPS-02EMFv2は、測定した磁界の周波数データを保存することができますので、対策するポイントを容易に特定することができます。
EPS-02Hv2は、磁界センサー測定部からのデータを直読し可視化することができます。非常にコンパクトで持ち運び等にも良く、現場での測定などに便利です。 -
雑音端子電圧測定をリーズナブルに
本システムは雑音端子電圧測定システムで使用するEMIレシーバーをスペクトラムアナライザにすることで、簡易的に雑音端子電圧の測定ができるシステムです。安価なスペクトラムアナライザを使用する事でリーズナブルにシステムを導入できます。
「簡易でよいので確認できる設備が手元に欲しい！」「プリチェック用の設備が欲しい！」というお客さまにおすすめのシステムです。雑音端子電圧測定システムは、供試品の電源線から流出する伝導性ノイズの強度を測定・評価するシステムです。シールドルーム内に設置された供試品からの伝導性ノイズを擬似電源回路網で検出し、スペクトラムアナライザで周波数および強度を測定します。 -
供試品に接続されたケーブルからの妨害電力の強度を測定・評価するシステムです。30MHzを超える周波数帯ではケーブルからの輻射によって妨害波が伝播されるため、雑音端子電圧測定とは異なるシステムで測定されます。白物家電を中心に規格で要求されています。 -
供試品に接続されたケーブルからの伝導性ノイズの強度を測定・評価するシステムです。
シールドルーム内に設置された供試品からの伝導性ノイズを擬似回路網（LISN/ISN）にて検出し、スペクトラムアナライザやEMIレシーバにて周波数およびレベルを測定します。 -
供試品より放射される不要輻射のノイズ強度を測定・評価するシステムです。
各国で自主規制を含む多くの妨害波規制が施行され、製品を市場に流通させるためにその規制値を満たすための対策・評価が必須条件となっています。 -
車載電子機器やハーネスより輻射される電磁界ノイズ／伝導性ノイズの強度を測定・評価するためのシステムです。
供試品（DUT）より発生する放射性ノイズ／伝導性ノイズをアンテナやプローブで検出し、EMI レシーバなどを用いて周波数およびレベルを測定します。 -
半導体エミッション測定は、IEC規格で標準化されている半導体（IC)に対するエミッション測定法です。
主にIEC61967-2/3/4/5/6/8までの６種類の測定法が規定されており、現在、これら６種類の測定法の中ではIEC61967-2（TEMセル法）、IEC61967-4（1Ω/150Ω法）の２種類が多く利用されています。
IEC61967-2は、小型の広い周波数特性のあるTEM Cellを用いた測定法です。TEMCellの外壁上部に角穴があり、その角穴に密着するように専用の測定基板を設置し、DUTからの輻射を測定するシステムです。
DUTからの輻射のみを測定するために、基板はDUT側が配置される側に表層グランド面を設け、そのグランド面とTEM Cell外壁とを密着させることで、DUTのみTEM Cell内に置かれるように配置します。
IEC61967-4はデバイスのグランドリターンに１Ωの抵抗を直列に配置し、その電圧降下から電流値を測定する方法です。
また、IOポートでは線路インピーダンスを150Ωとして、グラウンドとの電位差を測定します。
ノイズ研究所の半導体エミッション測定システムは、主にIEC61967-2（TEMセル法）、IEC61967-4（1Ω/150Ω法）の試験法において、専用のソフトウェアを用いて構築ができます。
