本製品は製造・販売終了となっております。
製造終了品  電磁波解析測定システム ESV-3000
本製品は製造・販売終了となっております。
電磁波解析測定システム ESV-3000

基板からの輻射ノイズを可視化
本製品は『EMC対策は設計の上流から』をコンセプトに
基板の開発段階でノイズ源を可視化し対策するための
測定システムです。
本製品導入の際は、別途ソフトウェアなどが必要です。
(ESV-3000XPe又はXP-USBを選択ください)
- 基板からの輻射ノイズを自動測定および可視化できます。
- 測定周波数は150kHz~3GHz(オプション含む)
- 測定エリアは300×350mmまで測定できます。
- 電界・磁界ノイズ成分の切り分けができます。
【基本仕様】
| 項目 | 仕様 |
| 測定方式 | XYステージによる電磁界プローブ走査方式 |
| 周波数範囲 | 150Hz~3GHz(オプション含む) |
| 測定エリア | 最大350mm×300mm |
| 最小走査/ステップ | 1mm以上/0.1mmステップ |
| 対応スペアナ | E4402B/U3741/MS2661Cなど |
| 寸法 | W601×H980×D662mm |
| 質量 | 約37kg |




