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投稿日時: 2016-04 (140 ヒット)

   このたびの「平成28年熊本地震」による被災者のみなさまに、

   心よりお見舞い申し上げます。

 

  当社では、被災されましたお客さまにご利用いただいております

  試験器の『無料点検サービス』を実施させていただきます。

 

  ⇒詳しいご案内はコチラ



投稿日時: 2016-03 (518 ヒット)

 

2016年4月20日(水)より幕張メッセにて開催される、テクノフロンティア2016第29回EMC・ノイズ対策技術展に出展いたします。
当日は、来場者さまだけの特典として「40周年記念冊子」無料配布のほか空間電磁界可視化システムEPS-02シリーズなどさまざまな製品を展示します。
みなさまのご来場を心よりお待ち申し上げます。

 

日時 : 2016年4月20日[水]〜22日[金] 10:00〜17:00
会場 : 幕張メッセ ホール6 ブースNo.6D-201
テクノフロンティア2016 第29回 EMC・ノイズ対策技術展の案内状はこちら。(PDFファイル)
http://www.noiseken.co.jp/uploads/photos1/126.pdf  

 

ご来場いただいたお客さま全員にもれなくプレゼント!株式会社ノイズ研究所40周年記念誌「EMCとともに40年」

EMCという問題が世に知られ、その言葉が使われだしてほぼ40年。
特にデジタル機器の普及に伴い電子機器の誤動作という社会的問題が出始めたとき、各企業の技術者、大学等の研究者は手探り状態で実験、研究を進め独自の社内・業界規格、設計ルールを確立してきました。現在はこれら知識や技術が体系だって整備され、国際規格として広く認知されるに至っています。

本書は、現在のEMCが社会的に確立される過程においてご尽力された方々のお話をまとめることで、過去を知り、現在、未来の技術者の育成に役立てる「EMCの温故知新」を目指して企画したものです。

日本、世界の電気・電子分野の研究、開発に発展にすこしでも寄与できれば幸いです。

 

EMC試験をトータルサポート

空間電磁界可視化システム(EPS-02E)エミッション測定の不合格にお困りではありませんか?サイト測定で測定結果NGでもその場で問題箇所を発見できます。
EPS-02Eは、カメラの画像から電磁界センサーの位置を検出し、そのセンサーで測定した信号をリアルタイムで周波数解析するシステムです。
薄型プレート広帯域アンテナ(NKU07M32G)試験イメージ近接照射イミュニティ試験はこれ1本!
近傍界での強電磁界イミュニティ試験において、薄型プレート広帯域アンテナを用いることで個々のアンテナ交換が不要となりました。

※ その他、弊社各試験器、試験システムなど、様々な製品を展示予定です。

 

開催期間中の無料セミナーのご案内

EMCの歴史とともに...
日時 : 4月21日(木)13:20〜14:10 出展者セミナー
会場 : 出展者セミナー会場 (1)
発表者 : 東京農工大学名誉教授 株式会社ノイズ研究所 取締役 仁田 周一


電子機器の静電気耐性向上の基礎
日時 : 4月22日(金)11:50〜12:30 主催者セミナー
会場 : 出展者セミナー会場 (2)
発表者 : IEC SC77B MT12エキスパート委員 自動車技術会 CISPR分科会 委員 株式会社ノイズ研究所 上席部長 石田 武志


静電気イミュニティ試験における特異現象の解説
日時 : 4月22日(金)15:00〜15:30 ソリューションセミナー
会場 : 対策技術・設計支援ソリューションセミナー会場
発表者 : IEC SC77B MT12エキスパート委員 自動車技術会 CISPR分科会 委員 株式会社ノイズ研究所 上席部長 石田 武志

※セミナー会場の場所は弊社案内状を参照ください。(PDFファイル)
http://www.noiseken.co.jp/uploads/photos1/126.pdf


本セミナーは事前申し込みができます。(定員制)
お申し込みはTECHNO-FRONTIER 2016ホームページ 「参加登録無料 展示会来場事前登録セミナー参加事前登録はこちら」のボタンよりお申込みください。

URL : http://www.jma.or.jp/tf/ja/index.html



投稿日時: 2015-12 (547 ヒット)

◎JEITAによる、EMCセミナーが開催されます!◎

 

JEITA半導体製品技術標準化専門委員会ならびに集積回路製品技術小委員会にて、半導体デバイスのEMC(Electro Magnetic Compatibility:電磁環境両立性)についての理解を一層深めて頂くためのセミナーが開催されます。

 

名称 2015年度 半導体EMC(電磁環境両立性)セミナー
〜品質確保のための要求、役割、評価方法について〜
日時 2016年1月27日(水) 10:00〜17:00
会場 一般社団法人 電子情報技術産業協会 416会議室
主催

JEITA半導体製品技術標準化専門委員会

集積回路製品技術小委員会

詳しいJEITAのホームページはこちらをご覧ください。
http://semiconjeitassc.ec-net.jp/spt/

 

案内状は上記URLまたは下記をご参照ください。

http://www.noiseken.co.jp/uploads/photos1/115.pdf
 



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