株式会社ノイズ研究所

展示会アーカイブ モビリティ社会に貢献するEMC試験の新化(テクノフロンティア2023 第36回 EMC・ノイズ対策技術展)

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モビリティ社会に貢献するEMC試験の新化(テクノフロンティア2023 第36回 EMC・ノイズ対策技術展) 製品イメージ画像

社会の変化や様々な技術の進化によってこれからの未来や私たちの生活環境を変える可能性を秘めているモビリティ社会。
安全・安心なモビリティ社会を実現するためにはEMC試験は無くてはならない存在の試験です。
自動車ではEV化に伴い、従来に加えて新たなEMC試験が要求されてきており、EMC試験の効率化も求められてきています。今回はモビリティに関連するEMC試験設備として、
 ● 近接照射アンテナを用いた簡易放射イミュニティ試験システム
 ● 半導体EMC性能等価性評価のDPIイミュニティ試験システム
を紹介いたします。モビリティ社会に貢献するEMC試験の新化をご覧ください。

DPIイミュニティ試験システム

DPIイミュニティ試験システムは、半導体(IC)にRF妨害電力を直接注入し、イミュニティ耐性を評価するための試験システムです。
製品に利用される半導体が変更になった際、本試験を実施して等価性の証明ができれば、製品性能は同等と見なすことができ、EMC試験を免除することができます。現在、一部業界では半導体EMC性能等価性評価を行うことで、EMC試験の工数削減への取り組みが始まりました。

PCN(製品変更通知)時における業務効率化を実現のイメージ
DPIイミュニティ試験システムのシステムブロックイメージ

また、製品開発プロセスに半導体EMC試験をフロントローディングとして組み込むことにより、誤動作の主要因となりうる半導体製品(IC)を定量的に評価することができ、EMC対策の工数削減が見込めます。

製品開発プロセスに半導体EMC試験をフロントローディングとして組み込んだ際の比較イメージ

簡易放射イミュニティ試験システム

近接試験用の小型パワーアンプと信号発生器との組み合わせで、手軽に放射電磁界の試験ができます。
IEC 61000-4-3やISO 11452-9のプリテストとしてご活用いただけます。

簡易放射イミュニティ試験システムの試験イメージ

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