本製品は製造・販売終了となっております。
製造終了品 製品本体 LSIエミッション測定システム3000en
本製品は製造・販売終了となっております。
LSIエミッション測定システム 3000en
LSIの輻射ノイズを可視化
LSIなど基板上の特定部品をより詳細に測定する
システムです。ESV-3000のオプションとしてライン
ナップし、基板全体と部品単体の電磁波を可視化
できます。
（別途ESV-3000本体が必要です。）
- LSIなど基板上の部品からのノイズを可視化できます。
- 測定周波数は30MHz～3GHz
- 測定エリアは87.5mm×75mmまで測定できます。
- 標準で磁界プローブ、オプションで電界プローブをご用意しています。
【基本仕様】
| 項目 | 仕様 |
| 周波数範囲 | 30MHz～3GHz |
| 測定エリア | 87.5mm×75mm |
| 最小ピッチ | 1mm |
| 寸法 | W590×H170×D600mm |
| 質量 | 約20kg |
