株式会社ノイズ研究所

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製造終了品  製品本体 LSIエミッション測定システム3000en

OLD Products

本製品は製造・販売終了となっております。

LSIエミッション測定システム 3000en

LSIの輻射ノイズを可視化

LSIなど基板上の特定部品をより詳細に測定する
システムです。ESV-3000のオプションとしてライン
ナップし、基板全体と部品単体の電磁波を可視化
できます。

(別途ESV-3000本体が必要です。)

 

 

  

 

  • LSIなど基板上の部品からのノイズを可視化できます。
  • 測定周波数は30MHz~3GHz
  • 測定エリアは87.5mm×75mmまで測定できます。
  • 標準で磁界プローブ、オプションで電界プローブをご用意しています。

 

【基本仕様】

項目仕様
周波数範囲30MHz~3GHz
測定エリア87.5mm×75mm
最小ピッチ1mm
寸法W590×H170×D600mm
質量約20kg