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LSIエミッション測定システム　3000en

LSIの輻射ノイズを可視化

LSIなど基板上の特定部品をより詳細に測定する
システムです。ESV-3000のオプションとしてライン
ナップし、基板全体と部品単体の電磁波を可視化
できます。

（別途ESV-3000本体が必要です。）

• LSIなど基板上の部品からのノイズを可視化できます。
• 測定周波数は30MHz～3GHz
• 測定エリアは87.5mm×75mmまで測定できます。
• 標準で磁界プローブ、オプションで電界プローブをご用意しています。

【基本仕様】