近接イミュニティ試験システム

近年、非接触給電や無線機器の増加とともに、これらの機器が他の電子機器に近接する状況が増えることで、電磁干渉リスクが懸念されています。近接照射イミュニティ試験は近接したアンテナから放射される磁界および電界に対して、電子機器の耐性を評価する試験です。
低周波帯はループアンテナによる磁界、高周波帯は、TEMホーンアンテナによる電界を発生させます。

 

■ 磁界イミュニティ 
項目 仕様1 仕様2
周波数範囲 9kHz 〜 150kHz 150kHz 〜 26MHz
試験レベル 30 A/m 3 A/m
変調方式 AM 1 kHz 80% パルス 2 Hz or 1 kHz、デューティーサイクル : 50 %

■ RFイミュニティ 

項目 仕様
周波数範囲 380 MHz 〜 6 GHz
試験レベル 300 V/m
変調方式 パルス 2 Hz、 217 Hz、 1 kHz、デューティーサイクル : 50 %

試験イメージ

 

システム構成イメージ

 

■ 各種近接照射用のアンテナ、システム構築に必要な各種計測器をご用意しています。詳細はお問合せください。

システム構成はノイズの信号源となるシグナルジェネレータと、その信号を増幅するパワーアンプ、電波を照射させるTEMホーンアンテナ、TEMホーンアンテナへの供給電力を確認するためのパワーメーター、これら一連の装置を制御するソフトウェアが必要となります。
基本的なシステム構成はIEC 61000-4-3 放射イミュニティ試験とほぼ同じで、近接照射試験を行うにはアンテナを従来の広帯域アンテナからTEMホーンアンテナに変更するだけでシステム構築ができます。(アンテナの位置制御(X-Y制御)はオプション対応です。)

専用ソフトウェアを使用した試験イメージ(X-Yポジション移動および偏波切替制御)

試験は供試品とアンテナ間の距離を100mmにし、供試品の全ての面に対して垂直偏波および水平偏波の照射を行います。
専用ソフトウェアを使用して、アンテナ移動と電波照射を自動化することで、さらに試験の時短・省力化ができます。