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- 雷サージ試験器 LSS-F03 Series
- マルチコンセント MODEL：18-00077A
- 半導体デバイス静電気試験器 ESS-6002/6008
- フリータイププローブスタンド 18-00075A
- 精密ステージタイププローブスタンド 18-00076A
- 波形調整用カード4枚 06-00064A
- インパルスノイズ試験器 INS -AX2 Series
- 波形調整用標準カード 2枚 06-00065A
- 印加クリップ 08-00013A/08-00014A
- 防護ケース 11-00012A/11-00013A
- 精密ステージ用印加治具セット 18-00015A
- 印加プローブ 01-00054A/01-00055A
- カップリングアダプタ MODEL：CA-803A
- プローブスタンド PS-806
- 半導体デバイス静電気試験器 ESS-6002/6008 （特注モデル）
- 三角波発生ユニット 02-00099A
- アウトレットパネル (4020/4040用） 18-00059C/18-00060B
- RS232光モジュールkit 07-00017A
製品（製造終了品）
- LSS-15AX series
- ファスト・トランジェント/バースト試験器 FNS-AX3 A16B/B50B
- 雷サージ試験器 LSS-F02 series
- 静電気試験器 ESS-S3011
- 静電気試験器 ESS-B3011
- 固定抵抗器 電流雑音測定器 RCN-2011
- ファスト・トランジェント／バースト試験器 FNS -AX3 A16B / B50B (詳細情報)
- 雷サージ試験器 LSS-F02 Series [詳細]
- インパルスノイズ試験器 INS-4020 / 4040
- ESV-3000
- LSS-720B
- 雷サージ試験器 LSS-720B
- EPS-3007
- EPS-6000 series
- ESS-2002EX
- 電源電圧変動試験器 VDS-1007/2007
- VDS-1007/2007
- 静電気自動印加システム ZAP-1A
- EMIラップ EMI-WRAPPER
- SWCS-932/S4
- ESV-3000en
- カップリングクランプ 15-00001A
- ワンタッチシールドテント WST-2001
- VDS-230S/250S
- ESS-2000AX
- 重畳ユニットIJ-5100
- 電磁波解析測定システム EPS-3007
- 電磁波解析測定システム EPS-6000 series
- 電磁波解析測定システム EPS-01A
オプション（製造終了品）
- 波形観測用アッテネータ（1kΩ) AT-811
- 波形観測用アッテネータ AT-810
- 放電ガン TC-815R
- 放電ガン TC-815S
- LFプローブ 01-00035A
- LFプローブ 01-00035A
- カップリングクランプ 15-00009A
- カップリングクランプ 15-00001A
- RS232ケーブル（２ｍ/1007･2007用） 05-00100A
- RFアンプ 3GHz 01-00029B
- RFアンプ 3GHz 01-00029B
- ESV専用シールドボックス
- 放電抵抗 0〜10kΩ
- 同期ケーブル（0.21ｍ/1007・2007用） 05-00101A
- コンデンサ 100〜500pF
- カレントインジェクションプローブ 95242-1
- RS232-USB変換アダプタkit（1007･2007用） 07-00024A
- GPIB-USB変換アダプタkit（1007･2007） 07-00025A
- 赤外線リモコン 08-00006B
- カレントインジェクションプローブ 95242-1
- メモリーカード（２５６ｋ） 08-00003A
- ガンホルダー 03-00056A
- 波形確認用ケーブルセット 05-00066A
- アレスタコンデンサユニット 08-00009A
- 重畳ユニットIJ-5100
- 放電チップ 12-00001A/12-00002A/12-00006A
- 3D可視化対応 (オプション) EPS-03series
- 高速先端ユニット 12-00005A
- 衝撃磁界アダプタ 03-00030B
- 衝撃電界アダプタ 03-00031B
