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新着カタログ
カテゴリ：
RF関連製品・試験システム
5G・IoT時代のEMC試験！
TEMホーンアンテナは、携帯電話などの無線送信機より輻射される電磁波のイミュニティ評価試験（近傍電磁界イミュニティ試験）を実施するためのアンテナです。
今後、TEMホーンアンテナを使用した近傍電磁界イミュニティ試験は、医療機器やマルチメディア機器など、様々な製品規格への展開が期待されています。広帯域、低VSWR、広い電界均一特性を有しており、効率のよい近接照射イミュニティ試験が行えます。
IEC 61000-4-39 Ed1 準拠のTEMホーンアンテナです。
● 380MHz〜6GHzの周波数範囲をアンテナ交換せず試験することができます。
● 低いVSWR、高GAINのため、効率よく電磁波を輻射することができます。
● 広い電界均一特性を有しているため、EUTへ照射する際にアンテナの移動を減らすことができます。
● 周波数毎での近傍電界分布の最大点が中心に有る為、アンテナの軸線上を基準にEUTに対して照射試験を行うことができます。
カテゴリ：
総合カタログ、ダイジェストカタログ
ＥＭＣ試験機器カタログ2019（民生・産業・電子部品版）
■ 静電気試験器
■ インパルスノイズ試験器
■ ファスト・トランジェント/バースト試験器
■ 雷サージ試験器
■ 電源電圧変動試験器
■ 減衰振動波試験器
■ 電源周波数磁界イミュニティ試験器
■ 電磁波解析測定システム
■ RFイミュニティ試験システム
■ RFエミッション測定システム
■ EMC 試験サービス（テストラボ船橋）
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ノイズテクニカルレポート（一部）
再現性の難しい静電気試験において、試験のポイントおよび対策のポイントを解説
1. 試験の概要
IEC61000-4-2 で規定された静電気試験は、帯電した人体からの静電気放電を模擬しており、正常動作の逸脱や破損の有無を評価する。
具体的な試験方法としては、コンデンサにチャージした静電気を供試機器に直接、あるいは試験用治具を使用して間接的に印加する形となるが、印加する静電気は立ち上がりが非常に高速でGHz 帯に及ぶ極めて広帯域な高周波成分を持っているため、単純な耐電圧試験ではなく二次的に発生する高周波電磁界に対する耐性試験となり、それを踏まえて十分な対策を施しておかなければ簡単に不具合を引き起こす厳しい試験となる。
試験環境としては、試験中の静電気放電によって周囲の電子機器に不具合を与える可能性
があるため、シールドルーム...
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ノイズテクニカルレポート（一部）
静電気試験を行う際に試験結果の再現性を向上させるための注意すべき点などを解説
1. はじめに
電気・電子機器などの誤動作や性能低下を起こす静電気放電は非常に身近な問題です。
この静電気放電を模擬した静電気試験は電気・電子機器などの影響（誤動作）を評価する他、電子部品への破壊
耐性試験など、幾つかの試験規格が存在します。
ここでは、帯電した人体からの静電気放電が電子機器に与える影響を評価する、国際規格IEC 61000-4-2 規格を
もとにした試験の概要や試験方法、および試験器のメカニズムをご紹介し、また、実際に試験を行う際に試験結
果の再現性を向上させるための注意すべき点などを解説します。
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ノイズテクニカルレポート（一部）
静電気試験においての除電の必要性を解説
静電気試験はイミュニティ試験の中でも頻度の高い試験である。
この静電気試験の試験方法を規定したIEC 61000-4-2 規格では、「非接地機器の試験を行う際には適切な除電を行う」よう記載があり、除電を実施する際には自然放電による除電、または、除電ブラシを用いて除電を実施する記載がある。
現在、私たちが使用している携帯電子機器などは、バッテリー駆動の製品やAC アダプタを用いて駆動する製品が多く、また日本国内では電源コンセントの構造で非常に多くの製品が非接地機器となっている。
これら非接地機器において、静電気試験を実施した際には帯電した電荷を逃がすための除電が必要となるが、実際においては適切な除電を行わずに試験を実施しているケースが散見される。
今回は、この除電に関して金属筐体／非金属筐体の製品やそれぞれの除電方法による除電効果を測定した。
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EMC試験規格概要
本規格は､周波数範囲150kHz 〜 80MHz までの意図した無線周波(RF) 送信機からの電磁妨害に対する耐性試験について規定しています。
なお、本規格では伝導性ケーブル( 電力線や信号線、接地線など) を1 本も持たない機器に対しては除外されます。
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RF関連製品・試験システム
DPIイミュニティ試験法とは、IEC規格で標準化されている半導体(IC)用のイミュニティ評価方法です。
評価するICを搭載したテストボード上のIC電源にRF妨害電力を直接注入し、イミュニティの耐性を評価する試験です。
試験は、試験周波数毎に試験レベル(電力)を段階的に上げていき、その都度にICの性能確認を実施する必要があります。
また、誤動作発生時にはその誤操作状態を記録する必要があり、大変な手間と時間が掛かります。
ノイズ研究所のDPIイミュニティ試験システムは、試験の実施から誤動作判定までを一貫して行い、試験時間と試験実施者の手間を省力できる画期的な自動化システムです。
● IEC 62132-4（DPI法）に準拠した試験が行えます。
● IEC 62132-1のIC パフォーマンスクライテリアに準拠した判定（Class A/C/D1/D2/E）が自動で行えます。
● 最大10個の判定条件（自動測定判定8個＋マスクテスト判定＋シリアルデコード判定）を自由に組み合わせて、ICの誤動作判定ができます。
● 誤動作発生時のICリセット等のために、複数台のDC電源を制御して電源をON/OFFできます。
● EUT(IC)に合わせて電圧値やリセット時間などを設定できます。
● マルチスイープ機能で試験時間を大幅に短縮できます。
● TEM-Cell法（IEC 62132-2）、 ICストリップライン法（IEC 62132-8）の試験もできます。
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ノイズテクニカルレポート（一部）
帯電した人体からの静電気放電（以下ESD：ElectroStatic discharge）による電子機器の誤動作耐性試験は、国際規格IEC 61000-4-2（自動車は、ISO 10605）により規定されています。本来、静電気放電は帯電人体のアプローチを伴う空気ギャップを介した不安定な気中放電となりますが、より安定した試験の再現性を得るために、これらの規格では、主に接触放電方式にて試験が行われています。この接触放電は、合理的な試験を実施するための規定ですが、実際の気中放電とはかなり異なる特性を示す場合があります。
ESD 試験は、GHz 帯の周波数成分を含む高速の過渡現象であり、電子機器にとって非常に厳しい試験であることは知られていますが、接触放電方式で起こりうる、特異な状況下では、更に厳しい放電現象が発生することが確認されています。
本稿では、この特異な現象とそのメカニズムを解説します。
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ノイズテクニカルレポート（一部）
電源線からのノイズの侵入を想定した国際規格はいくつかあるが、高周波パルスの試験では、Electrical Fast Transient/Burst(EFT/B) 試験IEC 61000-4-4 が代表的なものである。この規格は、モータなどの誘導負荷の接点が開離（オフ）するときに発生するシャワリングアーク現象を再現したもので、立ち上がり時間5 ns、50 %パルス幅が50 ns の“のこぎり波”を5 kHz（又は100 kHz）間隔で発生するノイズを規定している（図1）。
一方、日本を中心にIEC 61000-4-4 の国際規格が発行される以前から当社試験器INS シリーズを用いた方形波
インパルスノイズ試験を多くの企業で実施してきた。これまで水銀リレーを使用したインパルスノイズ試験器が普及していたが、半導体方式のインパルスノイズ試験器が市場に投入される状況にあり、改めてインパルスノイズ試験の意味を考えてみる。
