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プリント基板電磁波解析測定

プリント基板からの近傍界不要輻射の自動測定ができます
ノイズレベル分布図とプリント基板画像を合成表示することでエミッション源の特定が容易におこなえます
 
 
 
■測定周波数範囲 
150kHzから3GHzまで測定できます。
■測定可能エリア 
最大は300×350mmまで測定できます。
■電界・磁界それぞれの測定を可能にする電界・磁界プローブを標準装備しています。

 

測定システム仕様
項 目
仕 様
測定方法
XYステージにより微小電磁界プローブを走査
検波信号分析
スペクトラムアナライザによる分析
測定周波数範囲
30MHz〜3GHz
低域周波数測定範囲
150kHz〜100MHz
測定エリア
300×350(mm)

 

有効な活用例

●製品レベルで測定をした際に規格に適合しないため、基板レベルでの対策がしたい。
●問題となっている周波数の発生源を特定したい。
●従来のカットアンドトライでの対策ではなく、抜本的な対策をしたい。
●ノイズの発生源を視覚的にとらえたい。
●サイトでの測定回数を減らしたい。(時間、コストの削減)
 

 

どんな測定?

被測定物をXYステージ上に配置し、ステージ下の可動式のプローブを走査させ、各ポジション(XY座標)ごとのエミッションデータを収集します。
そのデータを画像処理することにより、被測定物のどの部分からどれくらいのノイズが発生しているのかを直感的にわかりやすいエミッションマップとしてOUTPUTします。

 

プローブを走査させる分解能を容易に可変できるので、短時間で大まかな様子を確認したり、きめ細かいエミッションマップを取得したりと必要に応じて測定仕様を変更できます。
測定ポイントごとにスペクトラム情報を取得しているので、周波数範囲指定によるマップの表示も可能です。

 

 

 

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