試験概要
搭載電子機器が強い電磁界ノイズに曝された際の耐性を評価する試験システムです。
どんな試験？
GTEM Cell 内の中心導体と外部導体の間に供試品を設置し、その間で発生する電磁界に曝し規定の周波数・試験レベルで耐性を評価します。
どんな脅威を想定？
・ラジオ、トランシーバ、アマチュア無線、及び携帯電話などの無線電波
・違法無線
試験設備スペック
・対応周波数：10kHz〜3GHz
・試験レベル：10kHz〜1GHz MAX200V/m、1GHz〜2GHz MAX100V/m
2GHz〜3GHz MAX80V/m
強電界試験システム概要
・均一エリア� ↓�共に約±3dBの範囲です。
・試験周波数範囲：10kHz〜3GHz
・10kHz〜1GHz：電界強度：校正エリア��100V/m、校正エリア��200V/m（いずれも無変調時）
・1GHz〜2GHz：電界強度：校正エリア��100V/m（無変調時）
・2GHz〜3GHz：電界強度：校正エリア��80V/m（無変調時）
・電界強度の校正はパワーメータによる電力管理にて行っています。
・AM変調方式には、主に以下の2種類があります（いずれも左が無変調。右がAM変調）。
◇IEC61000-4-3で採用されている方式 ◇ISO11452で採用されている方式（ピーク制御）
＊ IECの方はAM変調時のVp-pが無変調時のVp-pより変調率分大きくなっています。それに対して、ISOの方はAM変調時、無変調時共、Vp-pは同じです。どちらも無変調時のレベルが100V/mであれば、XX%のAM変調をかけた場合、「100V/m、AM XX%変調」という表現を用います。
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試験イメージ
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 近傍電磁界イミュニティ試験 |
 各試験の詳細 |
 《対策検討用》簡易放射エミッション測定 |
