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GTEMセルによる放射イミュニティ試験

 電子機器が強い電磁界ノイズに曝された際の

耐性を評価する試験です

概要

近年、携帯電話など無線を利用する機器が増加しています。

このような無線機器からは電磁波が輻射されており、電子機器が電磁波にさらされると誤動作をする場合があります。
この試験は、電子機器や接続されたケーブルに、強い電磁界ノイズが誘起した際の機器の耐性を評価する試験です。
本試験ではより高い周波数域の試験を実施するため、TEMセルの代わりにGTEMセルを用いて試験を実施しています。

 想定される脅威

 ■ラジオ、テレビ放送、無線LAN、トランシーバ、アマチュア無線、

  および携帯電話の無線電波

 ■違法無線

 どんな試験?

GTEMセル内の内部導体と外部導体の間に発生する電磁界の中に供試品を設置し、既定の周波数および試験レベルで耐性を評価します。

 

 

均一エリア ↓共に約±3dBの範囲です
  

試験周波数

均一エリア

(594mm×266mm)

均一エリア

(297mm×133mm)

100kHz〜1GHz

最大 100V/m

最大 200V/m

1GHz〜2GHz

最大 50V/m

最大 100V/m

2GHz〜3GHz

最大 40V/m

最大 80V/m

 

 AM変調方式には、主に以下の2種類があります。

  (いずれも左が無変調 右がAM変調)

 

■IEC61000-4-3規格にて採用されている方式
 
■ISO11452規格で採用されている方式 (ピーク制御)
※IEC方式では無変調波をベースにAM変調を行うため、変調波のVp-pは変調率分大きくなります。一方、ISO方式では変調波のVp-pが同じとなるようにAM変調します。
いずれの場合も、無変調時のレベルが100V/mであれば「100V/m、AM変調○%」という表現を用います。

   

試験イメージ
 

 

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