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G-TEM Cell イミュニティ試験

  車載電子機器が強い電磁界ノイズに曝された際の

耐性を評価する試験です

概要

近年、携帯電話など、無線を利用する機器が増加しています。

このような無線機器からは電磁波が輻射されており、電子機器が電磁波にさらされると誤動作をする場合があります。
この試験は、車両に搭載する電子機器や接続されたケーブルに、強い電磁界ノイズが誘起した際の機器の耐性を評価する試験です。本試験ではより高い周波数域の試験を実施するため、TEM Cellの代わりにG-TEM Cellを用いて試験を実施しています。

 想定される脅威

 ■ラジオ、テレビ放送、無線LAN、トランシーバ、アマチュア無線、

  および携帯電話の無線電波

 ■違法無線

 どんな試験?

G-TEM Cell内の内部導体と外部導体の間に発生する電磁界の中に供試品を設置し、既定の周波数および試験レベルで耐性を評価します。

 

 

均一エリア ↓共に約±3dBの範囲です
 
 試験周波数範囲   
        
100kHz〜3GHz  
 電界強度   100kHz〜1GHz

校正エリア 100V/m 

校正エリア◆200V/m(いずれも無変調時)

1GHz〜2GHz

校正エリア 50V/m 

校正エリア◆100V/m(いずれも無変調時)

  2GHz〜3GHz

校正エリア 40V/m 

校正エリア◆80V/m(いずれも無変調時)

 AM変調方式には、主に以下の2種類があります。

  (いずれも左が無変調 右がAM変調)

 

■IEC61000-4-3規格にて採用されている方式
 
■ISO 11452で採用されている方式(ピーク制御)
※IECの方式はAM変調時のVp-pが無変調時のVp-pより変調率分大きくなっています。それに対して、ISOの方式はAM変調時、無変調時共にVp-pは同じです。
どちらも無変調時のレベルが100V-mであれば、XX%のAM変調をかけた場合、「100V/m,AMXX%変調」という表現を用います。

   

試験イメージ
 

 

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