EMC技術資料無料プレゼント!!

オートモーティブワールド2020 第12回 国際カーエレクトロニクス技術展 出展のご案内 
 

2020年1月15日より東京ビッグサイトにて開催されるオートモーティブワールド2020　第12回 国際カーエレクトロニクス技術展に出展いたします。
当日は、来場者さまだけの特典としてEMC技術資料の無料配布のほか、ノイズの発生源を可視化する「空間電磁界可視化システム EPS-02シリーズ」、各種EMC試験器や測定器などを展示します。
ご来場を心よりお待ち申しあげます。
詳細は、カーエレクトロニクス技術展出展の案内状をご覧ください。
http://www.noiseken.co.jp/uploads/photos1/435.pdf　

◎今年も池袋サンシャイン文化会館にて、EMCセミナーが開催されます！◎

★★★★★　おすすめセッション！是非ご参加ください　★★★★★
技術セッション7：静電気放電対策：超入門実証実験から学ぶ基礎知識から高度ノウハウの習得まで
開催日時:2019年11月8日（金）9:30〜16:10
【セッション概要】
電子機器に対する静電気放電（ESD）試験は、帯電人体のESD 現象を模擬した国際規格 IEC 61000-4-2 が広く知られているが、電子機器のフィールドで発生するESD トラブルは、この規格の範囲を超える部分が多くある。
本セッションは、様々な環境、条件で発生するESD の現象を実験によってデモ・実証し、ESD の本質を体得する。
これにより規格の要求事項を理解し、また補なわなければならない点は何かを認識する。現場での厳しいESD 環境の再現方法や、実際のESD 対策の考え方と事例を解説し、更に国際規格の最新改正動向を紹介する。

◆◆◆セッション2の詳細内容はこちらのPDFファイルを確認ください◆◆◆
https://www.it-book.co.jp/EMC/forum/2019/pdf/session7.pdf

11月8(金)に行われるEMC製品展示会2019(第25回 EMC環境フォーラム)に出展をいたします。

お客さまのご来場を心よりお待ち申しあげます。 

EMC製品展示会 2019のご案内はこちら ⇒ https://cend.jp/event/exhibition/

【空間電磁界可視化システム(EPS-02Eｖ3)】
電子機器の開発に不可欠なEMC対策における、事前測定・発生箇所の特定・対策効果の確認ができるシステムです。電磁界センサでなぞった部分の電磁界を測定し、測定品とあわせてヒートマップ状に表示します。EMI対策のノイズ発生源の特定に、対策前後の効果測定に、測定データを残すことができますので、EMI対策の効率化にお役立ち頂けます。従来の２次元（周波数とレベル）測定に加え、３次元（周波数、レベル、時間）測定が可能になりました。これにより、ノイズの時間的変化が視覚的に確認できるようになり、不連続なノイズの発見など、ノイズの発生要因の解析が容易になりました。

【EMC環境フォーラム限定】
来場者さまにEMC試験資料を無料プレゼント!!
お客さまのEMC試験に関する、お困りごと・ご不明点がございましたらお気軽にお問合せください。

無事に終了しました。沢山のご来場、誠にありがとうございました。

EMC技術資料無料プレゼント!!

名古屋オートモーティブワールド2019 第2回 名古屋カーエレクトロニクス技術展 出展のご案内 
 

2019年9月18日よりポートメッセなごやにて開催される名古屋オートモーティブワールド2019 第2回 名古屋カーエレクトロニクス技術展に出展いたします。
当日は、来場者さまだけの特典としてEMC技術資料の無料配布のほか、ノイズの発生源を可視化する「空間電磁界可視化システム EPS-02シリーズ」、自動車・車載機器向けの各種EMC試験器や測定器などを展示します。お客さまのご来場を心よりお待ち申しあげます。

★★★　申込者数が定員に達したため受付を終了しました　★★★

実践から考えるEMC
〜発生の仕組み・ツールを使ったアプローチ・対策のノウハウをお伝えします〜

悩みの尽きないEMC対策…本セミナーでは、パナソニック株式会社プロダクト解析センター × 星和電機株式会社 × 株式会社ノイズ研究所の3社が手を組みフィールドでのノイズトラブルから考察した評価方法の紹介、EMC対策のアプローチ方法に焦点をあてた実践的な測定技術の紹介、さらに対策部品の観点から見た対策の考え方まで”How To”コラボセミナーです。
EMC業務に携わって3年以上の方には必見のセミナーです。

皆様のご参加御待ちしております！ 

セミナーの詳細およびお申し込みは下記PDFファイルを参照ください。

http://www.noiseken.co.jp/uploads/photos1/423.pdf

第一部　13:10〜14:50　株式会社ノイズ研究所　技術部　上席部長　石田武志氏
【国際規格の電源系ノイズ試験の目的とフィールドでのノイズトラブル】

電源線のノイズ耐性試験は、EFT/B、雷サージ、減衰振動波などサージ系の試験に加え、伝導性RFなどがあり、これらはそれぞれのフィールドで発生する代表的なノイズを模擬しており、ノイズの結合方法や試験環境なども目的に応じて定められている。一般的に殆どの電子機器はこれらの試験をクリアすることで十分な性能を発揮すると考えられているが、ごく稀にトラブルが発生することがある。これらのメカニズムの考察やその対策評価のアプローチを模索する。

第二部　15:00〜16:00 パナソニック株式会社　プロダクト解析センター　政井茂雄氏
【可視化装置を活用したノイズ対策のアプローチ方法】

ノイズ対策を効果的に行うためのポイントは、一にも二にも可視化です。本セミナーでは、電磁界プローブの特徴や埋もれているノイズを見つける測定法など実践的な測定技術の紹介と、実際に暗室でNG時における可視化装置を活用したノイズ源特定までのアプローチの事例を紹介します。また有効な可視化装置の活用事例についても紹介致します。
１）ツールの特徴と測定技術
２）可視化装置の活用事例紹介
３）パナソニック プロダクト解析センターの取組み紹介

第三部　16:10〜17:10  星和電機株式会社　佐野一弥氏
【プリコンプライアンス段階のノイズ対策手法】

プリコンプライアンス試験の段階では、最小限の仕様変更で即効性のある対策が求められる。
この段階における各種対策手法を、グランディング、シールディング、フィルタリング、3つの視点から紹介する。

セミナーのお申し込みは下記PDFファイルを参照ください。

http://www.noiseken.co.jp/uploads/photos1/423.pdf

みなさまのご参加を心よりお待ち申し上げます