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◎今年も池袋サンシャイン文化会館にて、EMCセミナーが開催されます！◎

★★★★★　おすすめセッション！是非ご参加ください　★★★★★
セッション６：デバイスからシステムレベルのESD対策、試験評価と国際規格の動向
開催日時:2017年10月26日（木）9:30〜16:00
【セッション概要】
ウエアラブル端末やIoT（Internet of Things）機器の普及に伴い、ヒトやモノの帯電が引き起こす静電気放電（ESD）はあらゆる場面で電磁障害を引き起こす可能性がある。とくに高信頼性が要求される車載用の半導体デバイスや部品ではシステムレベルでのESD 対策と試験評価の対応が必至の情勢にある。
このセッションでは、デバイス・部品からシステムに共通するESD 対策の具体事例を述べ、試験評価については、留意点と共に最新の規格動向を解説する。最後にデバイス／部品／システムに共通する静電気現象、電流波形測定の基本、ESDの直接／間接試験法を、注意事項と併せて実験デモで示す。
◆◆◆セッション６の詳細内容はこちらのPDFファイルを確認ください◆◆◆
http://www.it-book.co.jp/EMC/forum/2017/pdf/session6.pdf